HORIBA納米粒度及Zeta電位分析儀

nanoPartica SZ-100V2

納米粒度及Zeta電位分析儀

型號SZ-100-S2和SZ-100-Z2

能表征納米顆粒的三個參數：粒徑、Zeta 電位和分子量。

納米技術的研發是一個持續不斷的過程，這是為了能夠從原子和分子水平上控制物質的尺寸，從而獲得性能更好的材料與產品。組件的小型化——即納米級控制可以有效實現更快的測量速度、更好的設備性能以及更低的設備運行能耗。納米技術在日常生活中的諸如食品、化妝品和生命科學等很多領域發揮著關鍵作用。

簡單快捷的納米顆粒多參數分析！

一臺設備、三種功能，可對每個測量參數進行高靈敏度、高精度的分析。

粒徑測量范圍0.3 nm ~ 10 µm

SZ-100V2 系列采用動態光散射 (DLS) 原理測量顆粒粒徑大小及分布，實現了寬濃度范圍的樣品測量。

Zeta 電位測量范圍– 500 ~ + 500 mV

使用 HORIBA Zeta電位樣品池測量Zeta 電位值，通過Zeta電位可預測和控制樣品的分散穩定性。Zeta 電位值越高，則意味著分散體系越穩定。

分子量測量范圍1 × 10 3 ~ 2 × 10 7 Da

通過測量不同濃度下的靜態光散射強度并通過德拜記點法計算樣品的絕對分子量 (Mw) 和第二維里系數 (A2 )。

SZ-100V2 系列具有良好的復雜信息處理能力和學習能力，可快速確定納米顆粒的特性！

SZ-100V2 系列具有雙光路設計，既可以測量高濃度的樣品，如漿體和染料；同時也可以用于測量低濃度樣品，如蛋白質、聚合物等。

使用單臺設備即可表征納米顆粒的三大參數——粒徑、Zeta 電位和分子量

HORIBA研發的Zeta 電位樣品池可防止樣品對其造成污染。樣品池容量（不低于容量100 μL）小適用于稀釋樣品的分析。

HORIBA研發的Zeta 電位樣品池的電極由碳材料制成，該材料不會受到鹽溶液等高鹽樣品的腐蝕。

HORIBA納米粒度及Zeta電位分析儀 

SZ-100-S2 測量規格

*1：Mark-Howink-Sakurada 方程，取決于樣本。
*2：取決于樣品。
*3：F 微型電池。

SZ-100-Z2 測量規格（粒度和分子量測量規格與 SZ-100-S2 相同。）

*4：取決于樣品。
*5：推薦的樣品電導率范圍：0 到 2 S/m。
*6：取決于樣品。